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ED400型渦流測厚儀廠家

產(chǎn)品時間：2024-07-05

簡要描述：

ED400型渦流測厚儀廠家上海遂歐儀器有限公司，ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

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詳細介紹

ED400型渦流測厚儀廠家

技術參數(shù)
測量范圍：	0～500 μm
測量精度：	0～50 μm：±1 μm；
	50～500 μm：±2%
分辨率：	0～50 μm：0.1 μm；
	50～500 μm：1 μm；
	0～500 μm：1 μm（可選）
使用溫度：	5～45℃
外形尺寸：	150 mm×80 mm×30 mm
重量：	280 g

ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

標配主機.jpg

儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。

操作視頻.jpg

ED400型渦流測厚儀操作

ED400型渦流測厚儀 特點

	量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達到 0～500 μm。
精度高測量精度達到2%。
	分辨率高分辨率達到0.1μm。
校正簡便只校正“0”和“50 μm”兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設計精度。
	基體導電率影響小基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2 μm。
可靠性提高采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
	穩(wěn)定性提高采用*的溫度補償技術，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
探頭芯壽命長采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。

ED400型渦流測厚儀廠家 配置

配置.jpg

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	基體導電率影響小基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2 μm。
可靠性提高采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
	穩(wěn)定性提高采用*的溫度補償技術，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
探頭芯壽命長采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。

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